氣氛控制開爾文探針系統(tǒng)
- 公司名稱 上海埃飛電子科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2017/9/15 16:43:26
- 訪問次數(shù) 1096
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RHC020-氣氛控制掃描開爾文探針
開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢,表面功函由材料表面zui頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù),KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界zui高分辨率的測試系統(tǒng) RHC020
是控制氣氛檢測樣品的理想解決方案,50x50mm樣品加熱器可將樣品溫度升至100℃,采用*的電子和硬件系統(tǒng)即時監(jiān)測溫度和濕度變化,附加表面光伏SPV020及表面光電壓譜SPS030模塊,可對光敏感樣品進行強度或波長可變的激發(fā)。
技術(shù)參數(shù):
● 2mm和50μm探針
● 功函分辨率1-3meV(2mm探針),5-10meV(50μm探針,光學防震臺)
● 50mmX50mmzui大掃描面積
● 318納米定位分辨率
● 跟蹤系統(tǒng)自動控制樣品和探針距離● 附加手動高度控制(25.4mm KP 平移)
● 過零信號檢測系統(tǒng)抑制寄生電容
● 50mmX50mm樣品加熱器
● 自動相對濕度控制至1%(10-100%RH)
選件
● 直插型探針支架:2mm-50μm
● 自動溫度控制
● 表面光伏模塊SPV020和SPS030