加拿大C-Therm公司(C-Therm Technologies Ltd. )擁有高科技的導(dǎo)熱系數(shù)儀TCi。
C-Therm TCi導(dǎo)熱系數(shù)儀采用“改良瞬態(tài)平面熱源法(Modified Transient Plane Source,”MTPS”)”的技術(shù),可直接對(duì)固體、液體、粉末和膠體等各種材料的導(dǎo)熱系數(shù)(thermal conductivity)和熱逸散率(thermal effusivity)進(jìn)行快速、精確地測(cè)定。TCi的應(yīng)用領(lǐng)域包括聚合物材料、相變材料、粉末材料、熱界面材料、納米材料、傳熱流體、隔熱材料、熱電材料、含能材料、建筑材料、地質(zhì)材料和功能性織物等等,的客戶包括美國*、NASA、3M、霍尼韋爾、寶潔、杜邦、三星、清華大學(xué)、中國工程物理研究院、中科院化學(xué)所、北京理工等研究機(jī)構(gòu)和高校。
C-Therm TCi導(dǎo)熱系數(shù)儀可用于實(shí)驗(yàn)室研發(fā),質(zhì)檢控制及生產(chǎn)制造過程。測(cè)試僅需短短幾秒,無需對(duì)樣品進(jìn)行制備,沒有樣品尺寸限制,且測(cè)試對(duì)樣品無損。
測(cè)試導(dǎo)熱系數(shù)范圍為0-500 W/mK,適用溫度范圍為-50°C~200°C,并可根據(jù)需要擴(kuò)展至500°C。測(cè)試精確度優(yōu)于5%,重復(fù)性優(yōu)于1%。
TCi導(dǎo)熱系數(shù)儀能非常方便地同控溫箱、高壓倉和手套箱等其他實(shí)驗(yàn)設(shè)備聯(lián)合使用,滿足用戶對(duì)各種測(cè)試環(huán)境的不同需求。
除MTPS探頭外,TCi另有瞬態(tài)法(Transient Line Source)探頭可選,用于測(cè)試熔融高分子,土壤,瀝青、油、蠟等材料。
技術(shù)指標(biāo)
導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍 0 to 500 W/mK
測(cè)試時(shí)間 0.8 到 3 秒
zui小測(cè)試樣品尺寸 17.8mm 直徑
zui大測(cè)試樣品尺寸 無限
zui小測(cè)試樣品厚度 通常 0.5mm, 基于測(cè)試物體的熱傳導(dǎo)性
zui大測(cè)試樣品厚度 無限
溫度范圍 -50℃ 到 200℃, 可拓展至500 ℃
重復(fù)性 優(yōu)于 1%
精確度 優(yōu)于 5%
其他測(cè)量屬性 熱擴(kuò)散值 比熱容 密度
標(biāo)準(zhǔn) ASTM D7984-16、 ASTM D5334、ASTM D5930,IEEE 442-1981