GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)（四通道測試，同時(shí)測試4個(gè)樣品）介紹：

關(guān)鍵詞：高溫介電溫譜測試儀、高溫介電性能測量系統(tǒng)、高溫介溫譜能系統(tǒng)。

產(chǎn)品介紹：

GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)主要應(yīng)用于高溫下材料的介電性能測試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時(shí)測試出測試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

1.耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好

2.四通道測試，可以同時(shí)測試1-4個(gè)樣品，方便快捷

3.數(shù)據(jù)分析軟件：提供多種掃描曲線，可以在多窗口之間切換數(shù)據(jù)

《符合ASTMD150和D2149-97標(biāo)準(zhǔn)>><<符合GB/T1409-2006介電常數(shù)和介電損耗的推薦方法》

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.可以在高溫、寬頻、真空條件下測量固體、薄膜樣品的介電性能

2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時(shí)間譜等測量功能

3.可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗，電容C，損耗D，電感L，品質(zhì)因數(shù)Q，阻抗Z等物理量；以實(shí)現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個(gè)溫度、多個(gè)頻率變化的曲線，時(shí)間和電壓變化的曲線

4.可提供塊體，薄膜，單樣品，四樣品夾具，滿足不同測試要求

高溫介電溫譜測試儀主要技術(shù)指標(biāo)：