一體式數(shù)顯砂漿回彈儀 BJHT-1/A

一體式數(shù)顯砂漿回彈儀 BJHT-1/A

  型號：BJHT-1/A

 據(jù)中華人民共和國行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DB/T50315-2000《砌體工程現(xiàn)場檢測技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)》中的“回彈法”所設(shè)計(jì)，于測定工業(yè)與民用一般建筑物燒結(jié)普通磚砌體中砌筑砂漿的抗壓強(qiáng)度的無損檢測。 
各類建筑工程中普通混凝土抗壓強(qiáng)度的無損檢測。

一體化設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)緊湊、小巧，無需檢測主機(jī)便可獨(dú)立工作
采用*的光電式傳感器，檢測精度高、使用壽命長
采用OLED液晶顯示屏，全中文界面，操作方便。
構(gòu)件及測區(qū)參數(shù)可現(xiàn)場錄入，并自動計(jì)算構(gòu)件檢測結(jié)果
具備實(shí)時時鐘日歷功能，可自動記錄每個構(gòu)件的檢測日期及時間。*的低功耗管理功能，可設(shè)置屏幕背光、語音音量，自動休眠，并有自動關(guān)機(jī)功能。
大容量數(shù)據(jù)存儲，zui多可存儲 2000 個標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)件,一個標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)件zui多可檢測 16個測區(qū)，*實(shí)際檢測工作的需要。
內(nèi)置大容量鋰電池，可反復(fù)充電使用，減少后期的使用成本，避免了一次性堿性電池帶來的高成本及對環(huán)境污染等缺點(diǎn)。
技術(shù)指標(biāo)：
1） 沖擊動能 0.196J
2） 彈沖擊長度 75±0.3mm
3）指針滑塊的摩擦力 0.5±0.1N
4） 彈擊拉簧工作長度 61.5±0.3mm
5） 彈脫鉤位置 刻度尺“100”刻線
6） 彈擊桿端部球面半徑 25±1mm
7） 彈起跳位置 刻度尺“0+1”處
8）鋼砧上的率定值 74±2
一體式數(shù)顯砂漿回彈儀 數(shù)字一體回彈儀 一體式回彈儀
儀器配置：
1）提箱 1 只；
2）回彈儀主機(jī) 1 臺；
3）電腦聯(lián)機(jī)通信用 USB 線 1 條；
4）充電電源適配器；
5）《說明書》1 本；
6）程序光盤 1 張；

產(chǎn)品名稱：地質(zhì)羅盤儀  產(chǎn)品型號： DQL-8

地質(zhì)羅盤儀 型號：DQL-8 
一、用途 
 DQL-8型地質(zhì)羅盤儀主要用途可供： 
1 測產(chǎn)狀：包括走向、傾向、傾角； 
2 地形草測：包括定方位（即交會定點(diǎn)），測坡角，定水平； 
3 測垂直角 
二、主要性能 
1 磁針阻尼時間（磁針偏轉(zhuǎn)90°至停留在原位置上的時間）小于15秒。 
2 讀數(shù)誤差： 
a 磁針轉(zhuǎn)動前后所指示之度數(shù)誤差不大于0.5°； 
b 磁針在0-180°、90-270°處由于偏心所引起誤差不大于0.5°； 
c 測角器的讀數(shù)誤差不大于0.5°。 
3 水準(zhǔn)器靈敏度： 
a 長水準(zhǔn)器20′±5′/2mm 
b 圓水準(zhǔn)器30′±5′/2mm 
4 儀器外觀尺寸（長×寬×高）為80×70×35（mm）。 
5 儀器重量為0.24kg。 
三、原理、結(jié)構(gòu) 
1、原理：本儀器是利用一個磁性物體（即磁針）具有指明磁子午線的一定方向的特性，配合該度環(huán)的讀數(shù)，可以確定目標(biāo)相對于磁子午線的方向。根據(jù)兩個選定的測點(diǎn)（或已知的測點(diǎn)），可以測出另一個未知目標(biāo)的位置。 
2、結(jié)構(gòu) 
儀器由上蓋與外殼通過聯(lián)接合頁構(gòu)成儀器主體。上蓋內(nèi)裝有反光鏡，可使目標(biāo)映入鏡中。外殼的外部裝有長照準(zhǔn)器，配合小照準(zhǔn)器可瞄準(zhǔn)目標(biāo)。外殼內(nèi)裝有刻度盤和磁針，可以直接讀出目標(biāo)的方位置，圓水準(zhǔn)器可以指示儀器的水平位置。長水準(zhǔn)器和指示盤供測量坡角用，可以在方向盤的傾角刻度上直接讀數(shù)。開關(guān)為磁針制動機(jī)構(gòu)，在外殼的側(cè)面?zhèn)溆写牌钦{(diào)整軸。 
該儀器具有結(jié)構(gòu)緊湊、體積小、攜帶方便、精度可靠、性能穩(wěn)定等特點(diǎn)。 
四、使用方法 
（一）測產(chǎn)狀（包括走向、傾向、傾角） 
1 測走向： 
走向即巖脈在水平上投影的方向。 
將儀器上蓋打開到限位置，用開關(guān)放松磁針，調(diào)好本地區(qū)的磁偏角，將儀器兩個長邊靠在巖層的特征面（具有代表性的面），保持圓水泡居中，則讀磁針北所指示的度數(shù)，即為巖層的走向。 
2 測傾向： 
垂直于走向所批示的面的方向 
用聯(lián)接合頁下邊的底盤的短邊或上蓋的背面靠穩(wěn)巖層的特征面，保持圓水泡居中，則讀磁針北所指示的傾向。 
3 測傾角： 
垂直于走向水平面夾角的角度。 
先用開關(guān)將磁針鎖住，上蓋打開到限位置，儀器的側(cè)邊垂直于走向而貼緊巖層的特征面，調(diào)長水泡居中，讀指示器所指的方向盤的度數(shù)，即為巖層的傾角。 
在實(shí)際測量中，走向和傾向兩因素，只需測其中一個就可以，因?yàn)樽呦蚝蛢A向是互為90°的關(guān)系。 
（二）地形草測（包括定方位、測坡角、定水平線） 
1 定方位： 
目標(biāo)所處的方向和位置，定方位也叫交會定點(diǎn)。 
① 當(dāng)目標(biāo)在視線（水平線）上方時的測量方法。 
右手握緊儀器，上蓋背面向著觀察者，手臂貼緊身體，以減少抖動，打開磁針，左手調(diào)整長照準(zhǔn)和反光鏡，轉(zhuǎn)動身體，使目標(biāo)、長照準(zhǔn)尖的象同時映入反光鏡，并為鏡線所平分，保持圓水泡居中，則讀磁針北所指示的度數(shù)，即為該目標(biāo)所處的方向。 
按照同樣的方法，在另一側(cè)點(diǎn)對該目標(biāo)進(jìn)行測量，這樣兩個測點(diǎn)對同一目標(biāo)進(jìn)行的測量得出兩線沿著測出的度數(shù)，相交于目標(biāo)，就得出目標(biāo)的位置。 
② 當(dāng)目標(biāo)在視線（水平線）下方時的測量方法 
右手緊握儀器、反光鏡的觀察者的對面，手臂同樣貼緊身體，產(chǎn)減少抖動，打開磁針。左手調(diào)正長照準(zhǔn)器和上蓋轉(zhuǎn)動身體、使目標(biāo)照準(zhǔn)尖同時映入反光鏡的橢圓孔中，并為鏡線所平分，保持圓水泡中，則讀磁針北所指示的度數(shù)，即為該目標(biāo)所處的方向。 
按照同樣的方法，在另一測點(diǎn)對該目標(biāo)進(jìn)行測量。這樣從兩個測點(diǎn)對該目標(biāo)進(jìn)行測量，得出兩線沿著測出的度數(shù)，相交于目標(biāo)，就得出目標(biāo)的位置。 
2 測坡角： 
目標(biāo)到觀察者與水平面的夾角。 
先將磁針鎖住，右手握住儀器外殼和底盤，長照準(zhǔn)器在觀察者的一方，將儀器平面垂直于水平面，長水泡居下方。左手調(diào)正上蓋和長照準(zhǔn)器，使目標(biāo)、照尖的孔同時為反光鏡橢圓孔刻線所平分。然后右手中指調(diào)正手把、從反光鏡中觀察長水包居中，此時指示盤在方向盤上所指示的度數(shù)，即為該目標(biāo)的坡角。 
如果測某一坡面的坡角，則只需把上蓋打開到限位置，將儀器測邊直接放在該坡面上，調(diào)整長不泡居中，讀出該坡面的坡角。（與測產(chǎn)狀中的傾角相同。） 
3 定水平線： 
先將磁針鎖住，指導(dǎo)長照準(zhǔn)器扳至與盒面成一平面，上蓋扳至90°而照準(zhǔn)尖豎直，平行上蓋，將指示器對準(zhǔn)“O”，則通過照準(zhǔn)尖上的視孔和反光鏡橢圓孔的視線，即為水平線。 
（三）測物體的垂直角 
先將磁針鎖住，把上蓋扳到限位置，用儀器測面貼緊物體（如鉆杠）具有代表性的平面，然后調(diào)長水泡居中，此時指示器的讀數(shù)，即為該物體的垂直角。 
五、注意事項(xiàng) 
1 磁針和軸尖、瑪瑙軸承是儀器主要的零件，應(yīng)小心保護(hù)，保持干凈，以免影響磁針的靈敏度，不工作時，應(yīng)把磁針鎖牢，以減少磨損。 
2 的有合頁不要輕易拆卸，以免松動而影響精度。 
3 儀器盡量避免高溫暴曬，以免水泡漏氣失靈。 
4 合面轉(zhuǎn)動部分應(yīng)經(jīng)常點(diǎn)些鐘表油以免干磨而折斷。 
5 長時期不使用時，應(yīng)放在通風(fēng)、干燥地方，以免發(fā)霉。 
技術(shù)參數(shù) 
長水準(zhǔn)器角值: 15’±3’/2mm  
圓水準(zhǔn)器角值: 30’±5’/2mm  
測角器讀數(shù)差: ≤0.5°  
度盤格值： 1°  
重量： 0.27kg  
尺寸： 80×70×35(mm) 

產(chǎn)品名稱：雙組合四探針方阻/電阻率測試儀 雙電測四探針測試儀 產(chǎn)品型號：KDB-3

雙組合四探針方阻/電阻率測試儀 雙電測四探針測試儀  型號：KDB-3

 KDB-3雙組合測試儀是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)SEMI MF1529設(shè)計(jì)，雙組合測試方法使用四探針的方式不同于其他ASTM測量半導(dǎo)體電阻率或薄層電阻的方法。在本測試方法中，在測試樣品的每個測量位置上，以兩種不同的方式（配置）將探針連接到提供電流和測量電壓的電路中。四探針的這種使用法通常被稱為“雙配置”或“配置切換”測量。單組合四探針相比，用較小間距的探針頭就可以進(jìn)行高精度的測量，從而可獲得更高的晶片薄層電阻變化的空間分辨率。  
儀器特點(diǎn)如下：  
1、配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時監(jiān)測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更精確。  
數(shù)字電壓表量程：0—199.99mV  靈敏度：10μV  輸入阻抗：1000ΜΩ  
                        基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)  
2、可測電阻率范圍：10—4 —1.9×104Ω·cm。  
     可測方塊電阻范圍：10—3 —1.9×105Ω/□。  
3、設(shè)有電壓表自動復(fù)零功能，當(dāng)四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，只有1、4探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、3探針間的電壓（即電阻率）值；同樣，當(dāng)四探針頭1、3探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，只有1、3探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、4探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對測量的干擾。  
4、流經(jīng)硅片的測量電流由高度穩(wěn)定（萬分之五精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響，整機(jī)測量精度＜3%。  
電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。  
5、儀器采用觸點(diǎn)電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器（＞10萬次），在緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù)，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。  
6、可選配軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,可進(jìn)行雙組合或單組合測量，實(shí)現(xiàn)自動切換電壓檔位、讀取相應(yīng)電壓值，根據(jù)不同方法計(jì)算電阻率或方塊電阻值；軟件可對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，如平均值，大值、小值、大百分變化率、平均百分變化率、徑向不均勻度等內(nèi)容。  
7、可配KDDJ-3電動測試架，自動上下運(yùn)行，使測量更方便快捷。