化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>生命科學(xué)儀器>芯片系統(tǒng)>生物芯片/芯片掃描儀/芯片檢測(cè)儀>德?tīng)朒D-CR 德?tīng)朒D-CR 43 NDT工業(yè)CR掃描儀
德?tīng)朒D-CR 德?tīng)朒D-CR 43 NDT工業(yè)CR掃描儀
- 公司名稱 上海玖橫儀器有限公司
- 品牌
- 型號(hào) 德?tīng)朒D-CR
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/7/8 13:04:58
- 訪問(wèn)次數(shù) 831
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測(cè)厚儀,超聲波探傷儀,渦流探傷儀,相控陣探傷儀,DR平板探測(cè)器,磁通滲透,磁通磁軛,電磁超聲測(cè)厚儀,點(diǎn)焊分析儀
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 微流控芯片系統(tǒng) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè) |
德?tīng)朒D-CR 43 NDT工業(yè)CR掃描儀
全自動(dòng)的程序
可*自動(dòng)的從暗盒里移出和取回成像板
靈活的消磁
取決于應(yīng)用,消磁單元可以作相應(yīng)的預(yù)置
掃描裝置
帶激光器的光學(xué)單元,五棱鏡和光電倍增管
通風(fēng)管
通風(fēng)管內(nèi)殘留的冷卻空氣不會(huì)將任何灰塵帶入設(shè)備
傳送導(dǎo)航
引導(dǎo)成像板正確的通往探測(cè)單元
暗盒
堅(jiān)固的鋁制暗盒增加使用壽命并為成像板提供保護(hù)
德?tīng)朒D-CR 43 NDT工業(yè)CR掃描儀
高清晰度圖象
分辨率
激光閱讀像素可在12.5μm到200μm之間調(diào)節(jié)(HD版本)
網(wǎng)絡(luò)/獨(dú)立
快速連接到網(wǎng)絡(luò)或是作為獨(dú)立工作站安裝
始終配合
巧妙設(shè)計(jì)符合高質(zhì)量
成像板暗盒
通用的有3種尺寸和2種分辨率
HD-CR 43 NDT · 通過(guò)的技術(shù)獲得清晰圖象
壁厚測(cè)量
可減少80%曝光時(shí)間
焊縫檢測(cè)
根據(jù)EN14784和ASTM2446鑒定
鑄件
對(duì)于厚壁部分也能達(dá)到精確結(jié)果
航空部件
高于膠片質(zhì)量
精密的機(jī)構(gòu)
高精度的組件,無(wú)偽影
數(shù)據(jù)安全
簡(jiǎn)化的文檔和數(shù)據(jù)共享
壁厚測(cè)量
自動(dòng)測(cè)量壁厚的工具
25,000次循環(huán)
無(wú)擦傷25,000
(環(huán)境應(yīng)用)
D-Tect 軟件直觀操作
自動(dòng)壁厚測(cè)量
由于可使用任意選擇的測(cè)量工具測(cè)量壁厚,確定壁厚就變得非常簡(jiǎn)單。
不管是手動(dòng)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的輸入還是曝光參數(shù)已經(jīng)記錄,測(cè)量工具都能兼顧到。都可作為X射線照相技術(shù)的要求
直方圖均值化
在直方圖里灰度值的均值化可同時(shí)對(duì)不同密度材料進(jìn)行光學(xué)評(píng)定
高對(duì)比度濾波器
濾波器允許優(yōu)化圖像對(duì)比率。原始數(shù)據(jù)會(huì)無(wú)變化的保留
鑄件檢測(cè)
檢測(cè)鑄件需要特殊的濾波器來(lái)精確地分辨檢測(cè)對(duì)象的外部邊緣
測(cè)量也可以使圖象以實(shí)際的3D形式顯示來(lái)完成
用戶定制設(shè)計(jì)的工具可根據(jù)要求開(kāi)發(fā)
邏輯的
通過(guò)直觀操作概念簡(jiǎn)單快速地操作
智能
可單獨(dú)調(diào)節(jié)參數(shù)選擇
*的
特殊的軟件解決方案的概念是可實(shí)現(xiàn)的