低溫高濕
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 上海申賢恒溫設(shè)備廠
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/6/4 15:26:13
- 訪問次數(shù) 1579
產(chǎn)品標(biāo)簽
聯(lián)系方式：李曉峰13681910812 查看聯(lián)系方式
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專業(yè)生產(chǎn)烘箱、烤箱、消毒箱、真空干燥箱、恒溫恒濕箱、生化培養(yǎng)箱、霉菌培養(yǎng)箱、低溫培養(yǎng)箱、電熱恒溫培養(yǎng)箱、隔水式恒溫培養(yǎng)箱、二氧化碳培養(yǎng)箱、藥品試驗箱、干燥/培養(yǎng)箱兩用、光照培養(yǎng)箱、人工氣候箱、鹽霧試驗箱、老化試驗箱、恒定濕熱試驗箱、高低溫沖擊試驗箱、高低溫試驗箱、恒溫水槽、水浴鍋、搖床
低溫高濕針對產(chǎn)品在低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕等環(huán)境下是否會發(fā)生龜裂、破損，另外在低濕環(huán)境下空氣靜電量數(shù)倍于一般環(huán)境，據(jù)悉大部分電子零部件損壞是由靜電所引起的。
適用范圍：
低溫高濕可模擬產(chǎn)品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下（高低溫操作儲存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結(jié)露試驗)的測試去檢測產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變，更可以針對產(chǎn)品在低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等環(huán)境下是否會發(fā)生龜裂、破損，另外在低濕環(huán)境下空氣靜電量數(shù)倍于一般環(huán)境，據(jù)悉大部分電子零部件損壞是由靜電所引起的。
試品限制：
A）易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗及儲存；
B）腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗及儲存生物試樣的試驗或儲存；
C）強電磁發(fā)射源試樣的試驗及儲存；
容積和尺寸：
有效容積：408L；
內(nèi)箱尺寸：W800xH850xD600mm；
測試箱外箱尺寸：W1000xH1950xD1900mm（依實物為準(zhǔn)）；
低溫高濕性能介紹：
濕度范圍：5-98%；
濕度分布均勻度：±5%RH（中心點）；
溫度分布均勻度：±1℃（-40℃~100℃）/±1.5℃（-40.0℃～-70℃，100.0℃～150℃）；
溫度穩(wěn)定度：±0.2℃；
濕度穩(wěn)定度：±2%RH；
溫度分辨率：±0.01℃；
濕度分辨率：±1%
升溫時間：從25℃升至150℃需45分鐘，全程平均非線性，空載；
降溫時間：從20℃降至-40℃50分鐘，全程平均非線性，空載；
滿足試驗標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)低溫試驗方法；
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高溫試驗方法；
GJB150.3-1986高溫試驗；
CJB150..4-1986低溫試驗；
GB/T2423.3-2006(IEC60068-2-78:2007)試驗Cab:恒定濕熱試驗方法；
GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005)試驗Db:交變濕熱試驗方法；
GB/T2423.34-2005試驗Z/AD:溫濕組合。
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