ZEM-d 聚合物薄膜厚度方向熱電性能評價系統(tǒng)
- 公司名稱 QUANTUM量子科學(xué)儀器貿(mào)易(北京)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 ZEM-d
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/4/18 11:58:29
- 訪問次數(shù) 2053
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子,汽車,綜合 |
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聚合物薄膜厚度方向熱電性能評價系統(tǒng)-ZEM-d概述:
日本ADVANCE RIKO公司塞貝克系數(shù)與電阻測量系統(tǒng)ZEM系列銷售量超過300臺,廣獲科研及工業(yè)用戶的贊譽(yù),成為熱電材料域應(yīng)用廣泛的測試設(shè)備。2019年,在此前的成功基礎(chǔ)上,ADVANCE RIKO公司推出了門用于評價聚合物厚度方向上熱電性能的全新設(shè)備ZEM-d。
與之前ZEM系列產(chǎn)品(ZEM-3/ZEM-5)不同,新型號ZEM-d主要測量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數(shù)和電阻率,可以測量的樣品薄為10μm。此外,ZEM-d與采用激光閃光法測量薄膜的熱擴(kuò)散率/導(dǎo)熱系數(shù)測量方向致,其測量結(jié)果可廣泛應(yīng)用于薄膜熱電材料的性能評價。
ZEM-d測量原理
現(xiàn)存測試方法 | ZEM-d(厚度方向測量) |
電阻率測量原理
聚合物薄膜厚度方向熱電性能評價系統(tǒng)塞貝克系數(shù)測量原理
ZEM-d技術(shù)參數(shù)
測量參數(shù) 塞貝克系數(shù),電阻率
溫度范圍 可達(dá)200℃(樣品表面)
樣品尺寸 截面:Φ20mm(Max),長度:0.01-20mm
測量氛圍 空氣或惰性氣體
軟件界面