這款穆勒矩陣偏振測量儀Mueller Polarimeter采用斯托克斯偏振分析測試儀和Spectroscopic Polarimeter,可測量400nm~800nm范圍每個波長的偏振態(tài)。該穆勒矩陣偏振測量儀還具有雙折射偏振測試、斯托克斯偏振測試和映射mapping測量等功能，非常適合液晶顯示器、投影儀、偏振光學元件、偏振光學、晶體、生物樣品、熒光偏振等偏振態(tài)測量分析。
穆勒矩陣偏振測量儀Mueller Polarimeter特點
•無需校準,儀器在整個波長范圍內進行了校準。
•波長分辨率高達2nm,采用分光計代替帶通濾波片。
•可測量發(fā)散角和散射光,不僅可以測量準直光,還可以測量各種物質發(fā)光和反射光。
•用戶友好軟件，控制軟件非常易用,便于用戶控制和查找結果,測量結果存儲在csv文件中。

各種偏振能力測量
•雙折射測量：在0～10萬nm量級范圍內，可同時測量快軸方向和延遲量。
•穆勒矩陣測量：可以進行更高水平的偏振分析。
•Mapping繪圖能力:自動XY工作臺可選配,方便樣品偏振特性的分布。
客戶訂制化系統(tǒng)
我們可以對標準斯托克斯偏振測量儀 按照客戶要求進行定制,比如紫外-近紅外（UV-NIR）偏振態(tài)測量儀、用于測量微弱光的高靈敏度斯托克斯偏振測量儀系統(tǒng)、連接到顯微鏡上的斯托克斯偏振測量儀系統(tǒng)等等。
偏振樣品的高級分析
利用外加的偏振態(tài)發(fā)生器（PSG）和軟件可以測量樣品的偏振特性。穆勒矩陣偏振測量儀Mueller Polarimeter的PSG和測量頭單元可自由布置。它為需要構建適合多種應用的測量系統(tǒng)的用戶提供了方便。從測量的幾個stokes參數(shù)可以計算出如下偏振特性。
線二色性——線偏振光吸收
圓二色性——圓偏振光的吸收
線性雙折射——相移（線性?圓偏振）
旋光——線偏振的旋轉
去極化——降低DOP的能力
穆勒矩陣偏振測量儀Mueller Polarimeter規(guī)格
測量參數(shù)              斯托克斯參數(shù)（S0，S1，S2，S3），橢圓度，偏振方向，偏振度（DOP，DOLP，DOCP），偏振消光比
數(shù)據(jù)繪圖            圖形（波長v.s.參數(shù)），圖形（數(shù)據(jù)點v.s.參數(shù)數(shù)量），龐加萊球，Ellips視圖，警報（低光，飽和時）
特色功能             單次掃描，連續(xù)掃描，確認掃描，自動曝光
斯托克斯偏振計
波長范圍                         400～800nm
波長分辨率                     <2nm
波長數(shù)                              1500
最小測量時間                    6秒
高精度模式測量時間    >20秒
精度                          <2%
重復精度                  0.01@3σ（斯托克斯參數(shù)）
方向精度                          ±0.2度（基準面為底面）
測量原理                           波片旋轉、波片和分析儀旋轉
雙折射偏振計
原理                       雙斯托克斯數(shù)據(jù)分析
波長                      與斯托克斯偏振計相同
測量時間                   斯托克斯測量值的2倍
遲滯范圍                  0～λ/2納米，使用擬合方法，最大值為100000nm
快速軸范圍                          ±90度
重復性                             1度（延遲）
穆勒矩陣偏振計
原理                       四斯托克斯數(shù)據(jù)分析
波長                       與斯托克斯偏振計相同
測量時間                    斯托克斯測量值的4倍
重復性                      ±0.01（16個矩陣元素）
數(shù)據(jù)分析              線性二向衰減,圓形二向衰減，線性雙折射，圓雙折射，去偏振