K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統

K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統用于高性能表面分析的 X 射線光電子能譜

Thermo Scientific K-Alpha X射線光電子能譜儀 (XPS)系統為表面分析帶來了一種新方法。K-Alpha XPS 系統專注于使用簡化的工作流程提供高質量的結果，使 XPS 操作簡單直觀，而不會犧牲性能或功能。K-Alpha XPS系統是一種集成式單色小光斑XPS系統，具備深度剖析能力。

更先進的性能、更低的價格、更容易的使用性和較大的樣品測試量，使 K-Alpha XPS 系統成為多用戶環(huán)境的理想選擇。K-Alpha XPS系統使世界各地的研究人員能夠進行表面分析。

K-Alpha X 射線光電子能譜儀特點

高性能X射線源

K-Alpha X射線光電子能譜儀配備的X射線單色器允許在50 µm 至 400 µm 的分析區(qū)域內以 5 µm 的步長進行選擇選擇 ，以尋求所需的信號。

樣品視圖

使用K-Alpha XPS系統的光學觀察系統和XPS SnapMap聚焦樣品，幫助您快速確定分析測試區(qū)域。

深度剖析

使用K-Alpha X射線光電子能譜儀所配備的EX06離子源進行更深層表面的分析。自動源優(yōu)化和氣體處理功能確保的性能和實驗重現性。

優(yōu)異的電子光學系統

高效電子透鏡、半球形分析儀和檢測器，讓K-Alpha X射線光電子能譜儀可實現的檢測和快速數據采集。

數碼控制

由 Avantage 數據系統指導的直觀操作使 K-Alpha XPS 系統成為多用戶、測試中心和注重高效操作和高測試量的 XPS 專家的理想選擇。