Ingot XRD - 晶錠X射線定向儀
- 公司名稱 上海富瞻環(huán)保科技有限公司
- 品牌 Freiberg Instruments
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/2 11:22:06
- 訪問次數(shù) 140
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非甲烷總烴在線監(jiān)測儀,有機(jī)揮發(fā)物氣體監(jiān)測儀,沼氣檢測儀,大氣環(huán)境在線檢測儀,空氣質(zhì)量指數(shù)檢測儀器,大氣氣象綜合分析系統(tǒng),林業(yè)大氣環(huán)境檢測儀,交通環(huán)境大氣污染檢測,惡臭工作站
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 雙晶衍射 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
Ingot XRD - 晶錠X射線定向儀
產(chǎn)品特點(diǎn)
晶錠XRD有著優(yōu)良的XRD系統(tǒng),用于單晶晶錠的自動定向、傾斜和對準(zhǔn)研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其他100多種材料。
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹:
主要里程碑:
◆ 1961 - EFG GmbH公司由X-ray Ing.集團(tuán)亞瑟·布拉達(dá)切克和他的兒子漢斯·布拉達(dá)切克創(chuàng)立。
◆ 1969 - 研制了世界上基于集成電路的x射線檢測計(jì)數(shù)裝置,名為 COUNTIX 130。
◆ 1989 - 開發(fā) Omega-Scan 方法
BOSCH 要求提供圓形石英毛坯的定向測量系統(tǒng) - 振蕩器產(chǎn)量從 50% 提高到 95%
◆ 2005 - 將 Omega 轉(zhuǎn)移到其他材料,如SiC、藍(lán)寶石、GaN、GaAS、Si、Ni基高溫合金
◆ 2010 - 推出用于晶體取向測量的臺式 X 射線衍射儀 ( DDCOM )
全 球售出 約 150臺石英分選系統(tǒng)
◆ 2015 - X 射線技術(shù)和 EFG GmbH 合并到 Freiberg Instruments GmbH
晶錠XRD的特點(diǎn):
◇ 精度高
◇ 測量速度快: < 5秒/樣品
◇ 典型的標(biāo)準(zhǔn)偏差傾斜度(例如:Si 100):< 0.003 °,極小< 0.001 °。
◇ 晶錠的自動對準(zhǔn)
◇ 膠片的自動定位
◇ 光學(xué)測量晶錠和/或研磨原錠的幾何特征(平邊Flat、凹槽Notch位置)
◇ 晶錠的自動標(biāo)記
◇ 易于集成到工藝線中(手動或機(jī)器人裝載)。
◇ 數(shù)據(jù)矩陣代碼(DMC)閱讀器
◇ MES接口;SECS/GEM或類似接口
◇ 直徑達(dá)300毫米,長度達(dá)520毫米的晶錠
Ingot XRD prepared for manual loading
Omega/Theta XRD - X射線晶體定向儀
產(chǎn)品特點(diǎn)
Omega/Theta XRD用于超快速的晶體定向、生產(chǎn)中的晶體排列、質(zhì)量控制、搖擺曲線測量、材料研究等。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其他100多種材料。
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹:
Freiberg Instruments的單晶XRD定向儀
主要里程碑:
◆ 1961 - EFG GmbH公司由X-ray Ing.集團(tuán)亞瑟·布拉達(dá)切克和他的兒子漢斯·布拉達(dá)切克創(chuàng)立。
◆ 1969 - 研制了世界上基于集成電路的x射線檢測計(jì)數(shù)裝置,名為 COUNTIX 130。
◆ 1989 - 開發(fā) Omega-Scan 方法
BOSCH 要求提供圓形石英毛坯的定向測量系統(tǒng) - 振蕩器產(chǎn)量從 50% 提高到 95%
◆ 2005 - 將 Omega 轉(zhuǎn)移到其他材料,如SiC、藍(lán)寶石、GaN、GaAS、Si、Ni基高溫合金
◆ 2010 - 推出用于晶體取向測量的臺式 X 射線衍射儀 ( DDCOM )
全 球售出 約 150臺石英分選系統(tǒng)
◆ 2015 - X 射線技術(shù)和 EFG GmbH 合并到 Freiberg Instruments GmbH
產(chǎn)品優(yōu)勢:
◆ 采用Omega-scan掃描方法
◆ 測試速度快: 5s
◆ 測角精度高: 0.003
◆ 兼具XRD定向功能以及Flat/Norch功能
◆ 磨拋定向解決方案
◆ 擁有晶錠粘接轉(zhuǎn)移的技術(shù)(堆垛 stacking)專為SiC工業(yè)設(shè)計(jì),被多家SiC襯底頭部企業(yè)青睞,如:II-VI Advanced Materials, SiCrystal等,國外四分之三的碳化硅制造商依賴Freiberg Instruments公司的晶體取向測量技術(shù),極大提高了生產(chǎn)效率,提升產(chǎn)品質(zhì)量。
◆ Mapping 面掃功能,搖擺曲線測定
◆ 易于集成到工藝線中
◆ MES和/或SECS/GEM接口
◆ 傾斜的典型標(biāo)準(zhǔn)偏差(例如:Si 100):< 0.003 °,小于< 0.001 °
Omega/Theta X射線衍射儀是一個(gè)全自動的垂直三軸衍射儀,用于使用Omega-Scan和Theta-Scan方法對各種晶體進(jìn)行取向測定和搖擺曲線測量。大而寬敞的設(shè)計(jì)可以容納長度達(dá)450毫米、重量達(dá)30公斤的樣品和樣品架。
所有的測量都是自動化的,可以從用戶友好的軟件界面上的訪問。使用Omega掃描,可以在晶體旋轉(zhuǎn)時(shí)(5秒)確定完整的晶格方向。Theta掃描更加靈活,但每次掃描只能得到一個(gè)取向成分。
傾斜角可以以非常高的精度確定;使用Theta掃描可以達(dá)到0.001°。對于所有其他晶體方向,精度取決于與表面垂直的角差。
該系統(tǒng)是模塊化的,已經(jīng)配備了許多不同的擴(kuò)展,用于特殊的目的,如形狀或平面的確定、繪圖和不同的樣品架。樣品的傾斜是通過光學(xué)測量檢測出來的,并可用于校正所產(chǎn)生的方向。
單晶衍射儀定向儀:
◆ 全自動完整的單晶體晶格取向測量
◆ 使用歐米茄掃描法進(jìn)行超快速的晶體取向測量
◆ 自動搖動曲線測量功能
◆ 衍射儀的角度分辨率:0.1角秒。
◆ 樣品尺寸可達(dá)450毫米
◆ 適用于生產(chǎn)質(zhì)量控制和研究
用戶友好,成本效益高:
◆ 方便的樣品處理,易于操作
◆ 優(yōu)良的、用戶友好的軟件
◆ 能源消耗和運(yùn)行成本低
◆ 模塊化設(shè)計(jì),靈活性強(qiáng)
◆ 各種升級選項(xiàng)
◆ 根據(jù)用戶的要求進(jìn)行定制
選配功能:
◆ 自動Mapping面掃功能
◆ Omega/Theta – 晶錠粘接轉(zhuǎn)移的技術(shù)(堆垛 stacking)
◆ Omega/Theta - 搖擺曲線測量
◆ Omega/Theta - 定制的樣品臺
◆ 用于樣品形狀測量的激光掃描儀
◆ 光學(xué)檢測,用于平面和凹槽檢測
◆ 額外的樣品旋轉(zhuǎn)軸用于3D繪圖
◆ 二級通道切割準(zhǔn)直器(分析器)
◆ 用于樣品調(diào)整的設(shè)備