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[供應]X-Strata920-X射線熒光鍍層測厚儀 X-Strata920 返回列表頁
貨物所在地:上海上海市
更新時間:2024-11-01 21:00:08
有效期:2024年11月1日 -- 2025年5月1日
已獲點擊:503
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微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進行質(zhì)量控制和驗證測試,在幾秒內(nèi)即可獲得準確的數(shù)據(jù)。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
PCB / PWB 表面處理
控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性和壽命。根據(jù)IPC 4556和IPC 4552測量非電鍍鎳(EN,NiP)電鍍厚度和成分結(jié)構(gòu)。日立分析儀器產(chǎn)品幫助您在嚴控的范圍內(nèi)持續(xù)運營,確保高質(zhì)量并避免昂貴的返工。
零件必須在規(guī)格范圍內(nèi)被電鍍,以達到預期的電力、機械及環(huán)境性能。 開槽的X-Strata和MAXXI系列產(chǎn)品 ,可以測量小的試片或連續(xù)帶狀樣品,從而達到 引線框架(引線框架)、連接器插針、線材和端子的上、中和預鍍層厚度的控制。
半導體器件越來越小巧而復雜,需要分析設備測量其在小區(qū)域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設計為可為客戶所需應用提供高準確性分析,及重復性好的數(shù)據(jù)。
結(jié)合采購和本地制造的組件及涉及產(chǎn)品的多個測試點,實現(xiàn)從進廠檢查到生產(chǎn)線流程控制,再到zui終質(zhì)量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產(chǎn)品幫助您在全生產(chǎn)鏈分析組件、焊料和zui終產(chǎn)品,確保每個階段的質(zhì)量。
對可再生能源的需求不斷增加,而光伏在收集太陽能量方面扮演著重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽能電池的質(zhì)量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍層的準確度和連貫性,從而確保率。
與復雜的供應鏈合作,驗證和檢驗從供應商處收到的材料至關重要。使用日立分析儀器的XRF技術(shù),根據(jù)IEC 62321方法檢驗進貨是否符合RoHS和ELV等法規(guī)要求,確保高可靠性涂鍍層被應用于航空和軍事領域。
檢驗所用涂層的厚度和化學性質(zhì),以確保產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的功能性和使用壽命。輕松處理小緊固件或大型組件。
通過確保磨蝕環(huán)境中關鍵部件的涂層厚度和均勻度,預防產(chǎn)品故障。復雜的形狀、薄或厚的涂層和成品都可被測量。
當目標是實現(xiàn)無瑕表面時,整個生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制至關重要。通過牛津儀器的多種測試設備,您可以可靠地檢測基材,中間層和頂層厚度。
在條件下進行的零件的表面處理必須被控制在嚴格公差范圍內(nèi)。確保符合涂鍍層規(guī)格、避免產(chǎn)品召回和潛在的災難性故障。
憑借的分辨率和高效率 SDD,MAXXI 6 是測量zui薄涂層和痕量元素成分的理想儀器。MAXXI 6 具有多達6個主濾波器和8個準直器,能夠處理挑戰(zhàn)性的應用。巨大的開槽室設計是小、大或長樣本的理想選擇。優(yōu)化的硬件配置可以直接分析化學鍍鎳應用中的%P。
X-Strata920 可被配置為三個不同的樣品臺配置,以應對各種不同的樣本形狀和尺寸。標準臺可以快速定位小或薄部件。加深臺基座有一個可移動托盤,可快速被配置,以搭配小或大零件(zui大6英寸)。電動X-Y臺可自動分析多個樣品或一個樣品的多個位置。
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