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當(dāng)前位置：賽默飛世爾科技智能制造與過(guò)程分析>>X射線衍射儀（XRD）>> ARL™ EQUINOX Pro立式X射線衍射儀
ThermoScientificARLEQUINOXPro是一款采用θ/θBragg-Brentano光學(xué)的立式X射線衍射儀。這款儀器憑借先進(jìn)的軟、硬件配置，實(shí)現(xiàn)儀器系統(tǒng)運(yùn)行的整體優(yōu)化，提升儀器分析的準(zhǔn)確性、精確性、易用性和安全性。這款儀器能夠出色地完成各類粉末晶體的衍射分析，廣泛地應(yīng)用于材料研發(fā)和產(chǎn)品質(zhì)量控制的相關(guān)領(lǐng)域。
新型電控測(cè)角系統(tǒng)：小型化和分散化電機(jī)控制系統(tǒng)，可克服由于驅(qū)動(dòng)電機(jī)失步或超步引起的位置誤差，提高測(cè)角儀的整體控制精度和重復(fù)性
先進(jìn)光子探測(cè)技術(shù)：前沿PTPC(脈沖觸發(fā)實(shí)時(shí)位置)計(jì)數(shù)技術(shù)，通過(guò)同步脈沖觸發(fā)探測(cè)器的電子門(mén)控電路，將測(cè)角儀實(shí)際到達(dá)位置與探測(cè)器響應(yīng)進(jìn)行同步，實(shí)現(xiàn)探測(cè)器計(jì)數(shù)與測(cè)角儀位置的精確對(duì)應(yīng)，將角度位置與信號(hào)采集精確控制在行業(yè)先進(jìn)級(jí)別
魔卡免維護(hù)設(shè)計(jì)：光路魔卡設(shè)計(jì)系統(tǒng)和機(jī)械誤差動(dòng)態(tài)補(bǔ)償技術(shù)，通過(guò)整個(gè)光路系統(tǒng)上的組件、光源高低、傾角、狹縫架高低、探測(cè)器的魔卡設(shè)計(jì)，支持用戶在切換光路和樣品臺(tái)后無(wú)需再次校正，直接使用儀器
規(guī)格參數(shù)：
| X射線光源 | 高壓發(fā)生器：3kW或4kW可選 | |
| X射線光管靶材：Cr、Co、Cu、Mo、Ag可選 | ||
| 探測(cè)器 | 零維探測(cè)器：閃爍計(jì)數(shù)器 | |
| 一維探測(cè)器：MYTHEN2系列 | ||
| 二維探測(cè)器：ELGER2 R系列或ADVAPIX系列 | ||
| 測(cè)角儀 | θ/θ幾何結(jié)構(gòu)(樣品水平) | 測(cè)角儀運(yùn)動(dòng)范圍： -110°<2θ<+168° |
| 測(cè)角儀半徑：Max.300 mm,連續(xù)可調(diào) | 測(cè)角儀最小步長(zhǎng)：0.0001° | |
| 測(cè)角儀技術(shù)：帶光學(xué)編碼的伺服電機(jī)閉環(huán)控制 | ||
| 計(jì)算機(jī) | Windows10或11 | |
| 主控軟件 | 儀器控制及數(shù)據(jù)采集軟件—Measurement Scan | |
| 軟件 | 數(shù)據(jù)分析軟件 — Match!或MDUA DE | |
| 晶體學(xué)數(shù)據(jù)庫(kù) | ICDD PDF或COD或PCD | |
| 供電 | 230 V交流單相50 Hz | |
| 重量 | ~650 kg | |
| 尺寸(高寬深) | 1923 mm x 1300 mm x 1135 mm | |
| 分辨率 | FWHM<0.026°(LaB6 (110)) | |
| 準(zhǔn)確性 | 全范圍不超過(guò)+/-0.01° | |
