一、低溫試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測試設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進行高溫、低溫、或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能,低溫范圍從0度到-80度均可,試驗參照標準為:GB/T2423.1、GB/T2423.2-2008低溫試驗標準。
二、性能特點:綠色環(huán)保,微電腦控制,溫度數(shù)字顯示,箱內(nèi)溫度可調(diào),高密度保溫層,保溫效果好,節(jié)能。
三、符合標準:低溫試驗箱滿足GB/T2423.1-2001GB/T2423.2-2001等國家標準。
四、工作原理:制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán),該循環(huán)由兩個等溫過程和兩個絕熱過程組成,其過程如下:制冷劑經(jīng)壓縮機絕熱壓縮到較高的壓力,消耗了功使排氣溫度升高,之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進行熱交換將熱量傳給四周介質(zhì)。后制冷劑經(jīng)截流閥絕熱膨脹做功,這時制冷劑溫度降低。最后制冷劑通過蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱,使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復(fù)始從而達到降溫之目的。
五、用途:低溫試驗箱可以用來考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化,產(chǎn)品表面產(chǎn)生低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響,設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于8%,且試驗樣品不會受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。
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