日本SEISHIN顆粒形狀圖像分析儀PITA-04M特點(diǎn)介紹

顆粒形狀圖像分析儀 PITA-04M 分析流過細(xì)胞的顆粒圖像并測(cè)量顆粒尺寸分布和顆粒形狀。

可以在短時(shí)間內(nèi)分析數(shù)以萬計(jì)的顆粒。通過保存單個(gè)顆粒圖像，您不僅可以查看數(shù)值數(shù)據(jù)，還可以直觀地檢查顆粒的狀況。

測(cè)量過程中，可以實(shí)時(shí)顯示顆粒的流動(dòng)狀態(tài)，方便您檢查分散狀態(tài)和粒徑。

每個(gè)測(cè)量粒子的數(shù)據(jù)按照設(shè)定的參數(shù)繪制在散點(diǎn)圖上，不僅可以看到它們之間的相關(guān)性，還可以用任意參數(shù)替換它們并再次顯示。

另外，只需將光標(biāo)放在散點(diǎn)圖上繪制的點(diǎn)上，就可以顯示該位置的顆粒圖像和分析結(jié)果。

PITA-04不僅采用了最新的光學(xué)系統(tǒng)部件，還利用我們的平面延伸池來獲得清晰的顆粒圖像，并進(jìn)行精確的顆粒圖像分析處理。

特征

內(nèi)置于載液罐體中

標(biāo)準(zhǔn)化自動(dòng)清洗功能

與有機(jī)溶劑兼容

物品規(guī)格

分析項(xiàng)目 個(gè)數(shù)粒徑分布、體積/面積當(dāng)量粒徑分布、平均粒徑、最大粒徑、最小粒徑、中值粒徑 

測(cè)量項(xiàng)目 當(dāng)量圓直徑、圓度、長徑比、長軸、短軸、周長、包絡(luò)周長、閉孔曲線面積、不平度 

顯示項(xiàng)目 粒子圖像、散點(diǎn)圖、粒度分布圖、分散度、測(cè)定/分析項(xiàng)目詳細(xì)表、單粒子測(cè)定結(jié)果 

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方式 圖像和測(cè)量結(jié)果采用專用文件格式。測(cè)量結(jié)果可擴(kuò)展為 csv 文件。圖像可擴(kuò)展為位圖格式。 

細(xì)胞 合成石英玻璃扁平細(xì)長池 

相機(jī)　單色 CMOS 相機(jī)（1 像素 2.8μm x 2.8μm）最大 54fps 

光源 3W藍(lán)色LED燈