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白光干涉儀PX 3765
FR-pRoThetametrisis膜厚測量儀PX 7310
S neox 0.65XSensofar平面度測量白光干涉儀PX 5004
WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器PX 2922
SuperViewW1白光干涉3D顯微測量儀PX 4956
DFTQA實驗室干膜厚度質(zhì)量保證系統(tǒng)PX 2718
AE-100M蘇州萬濠白光干涉儀 AE-100MPX 3155
F20-Filmetrics光學膜厚測量儀PX 3006
SR-C反射膜厚儀PX 1750
專業(yè)銷售 Talysurf CCI白光干涉表面輪廓儀PX 2220
Lambda Vision TFW-100分光膜厚儀PX 2928
FSM 413紅外干涉測量設備PX 2964
WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器PX 3289
FR-Scanner自動化高速薄膜厚度測量儀PX 7310
Sensofar 集成式3D共焦白光干涉儀測量頭PX 5004
S mart2Sensofar 集成式3D白光干涉共聚焦測量頭PX 5004
FR-pRo:Thetametrisis膜厚測量儀PX 7310
FR-Scanner:自動化高速薄膜厚度測量儀PX 7310
FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150-自動化高速薄膜厚度測量儀PX 7310
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F50Filmetrics 自動化厚度測量儀PX 7310
F10-HCFilmetrics 薄膜厚度測量儀PX 7310
F20Filmetrics薄膜厚度測量儀PX 7310
WIP德國Werth WIP雙頻白光干涉白點測量傳感器PX 2922
FWS 涂層厚度與膜重測試站PX 2718
SuperViewW1納米級白光干涉三維形貌分析測量儀PX 4956
ACS 金屬罐涂層厚度和膜重測量系統(tǒng)PX 2718
SuperViewW1納米級白光干涉三維測量儀PX 4956
高級實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)PX 2718
增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)PX 2718
SuperViewW1三維形貌顯微白光干涉儀PX 4956
SuperViewW1白光干涉儀三維表面測量系統(tǒng)PX 4956
F54-XY-200薄膜厚度測量儀PX 3006
F32-Filmetrics光學膜厚測量儀PX 3006
F54-XYT-300薄膜厚度測量儀PX 3006
SuperViewW1國產(chǎn)白光顯微干涉三維形貌檢測儀PX 4956
SR-M顯微膜厚儀PX 1750
RT-V反射透射測量儀PX 1750
SR-Mapping反射膜厚儀PX 1750
粒度儀
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熱分析儀器
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測厚儀
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其它物性測試分析儀器
白光干涉3D顯微測量儀
納米級白光干涉三維形貌分析測量儀
納米級白光干涉三維測量儀
Sensofar 集成式3D白光干涉共聚焦測量頭
實驗室干膜厚度質(zhì)量保證系統(tǒng)
FWS 涂層厚度與膜重測試站
ACS 金屬罐涂層厚度和膜重測量系統(tǒng)
增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)
Thetametrisis膜厚測量儀
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